近紅外光譜儀可以測(cè)量物體的薄膜厚度，可以測(cè)量的膜層厚度10nm-50μm，分辨率為1nm。除此之外還會(huì)被應(yīng)用在金屬和玻璃材料基底上光學(xué)膜層厚度的測(cè)量。 全文

激光雷達(dá)目標(biāo)板主要用途：光密度計(jì)；影像設(shè)備；積分球系統(tǒng)軟件；光譜分析儀系統(tǒng)軟件；光學(xué)實(shí)驗(yàn)機(jī)器設(shè)備；遙感技術(shù)儀器；反射率儀器校準(zhǔn) 全文

現(xiàn)在的光譜卡有很多，在選擇的時(shí)候需要注意一下，不是貴就好，也不是價(jià)格低就湊合，要適合才行。要找好點(diǎn)的光譜卡，要從各個(gè)方面考察一下。 全文

漫反射雖然是漫射體，野外測(cè)量時(shí)，盡可能使用0觀測(cè)，也就是觀測(cè)方向垂直于白板法線，入射到白板上光的入射角（與白板法線交角）也應(yīng)在10-40之內(nèi)，這個(gè)條件下的測(cè)量數(shù)據(jù)更ke靠。激光雷達(dá)定標(biāo)板 全文